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JEOL: Lançado novo microscópio eletrônico de varredura com emissão de campo Schottky JSM-IT810

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JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (Presidente e Diretor Executivo, Izumi Oi) anunciou o lançamento do novo microscópio eletrônico de varredura com emissão de campo Schottky JSM-IT810 em 28 de julho de 2024.

Os microscópios eletrônicos de varredura com emissão de campo (FESEM) são amplamente utilizados em campos de ciência e tecnologia, como institutos de pesquisa, universidades e indústria. Há uma demanda crescente por um instrumento que possa ser utilizado de modo fácil, preciso, rápido e eficiente, da observaçãoàanálise.

O JSM-IT810 adiciona a função de observação e análise automática “Neo Action” e a função de calibração automática ao JSM-IT800, que é equipado com o sistema de controle ótico eletrônico de última geração “Neo Engine” e o “SEM Center” para alta operabilidade, como integração Zeromag e EDS, não apenas para melhorar a eficiência e a produtividade, mas também ajudar a resolver a escassez de mão de obra.

Este comunicado de imprensa inclui multimédia. Veja o comunicado completo aqui: https://www.businesswire.com/news/home/20240729372154/pt/

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Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810 (Photo: Business Wire)

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Principais características

1. Função de observação e análise automática “Neo Action”

Tudo o que você precisa fazer é selecionar as condições de aquisição de imagem SEM e o campo de visão; a função executa automaticamente a observação SEM e a análise EDS (espectroscopia de raios X de dispersão de energia).

Esta função contribui para melhorar a eficiência do trabalho de rotina, incluindo o trabalho de análise.

2. Função de calibração automática “Pacote de Ajuste Automático SEM”

Esta função permite a execução automática dos itens selecionados no ajuste de alinhamento, ajuste de ampliação e calibração de energia EDS.

3. “Função ao vivo”

Esta função é capaz de funções Live 3D, Live Analysis e Live Map. Imagens 3D podem ser criadas no local, enquanto uma observação SEM está sendo realizada para obter informações de irregularidade e profundidade. Além disto, ela ajuda a exibir sempre o espectro de raios X característico e o mapeamento elementar.

4. Integração EDS

Observação por um SEM e análise por um EDS são integradas. Análise de ponto, área e MAP podem ser realizadas a partir da tela de observação. A incorporação do Windowless EDS-Gather-X permite detecção de Li e análise em alta sensibilidade e alta resolução espacial.

Meta de vendas unitárias anuais

220 unidades / ano

Link relacionado

Informações do produto: Microscópio eletrônico de varredura com emissão de campo Schottky JSM-IT810

https://www.jeol.com/products/scientific/sem/JSM-IT810.php

JEOL Ltd.

3-1-2, Musashino, Akishima, Tóquio, 196-8558, Japão

Izumi Oi, Presidente e Diretor Executivo

(código de ações: 6951, Mercado Prime da Bolsa de Valores de Tóquio)

www.jeol.com

O texto no idioma original deste anúncio é a versão oficial autorizada. As traduções são fornecidas apenas como uma facilidade e devem se referir ao texto no idioma original, que é a única versão do texto que tem efeito legal.